積層セラミックコンデンサの歩留まりを改善したい
解決提案 測定ソリューション
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従来の課題
- 積層セラミックコンデンサの歩留まりを改善したい
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ミツトヨの解決提案
- QVシリーズは積層セラミックコンデンサの製造工程毎の品質管理向上に適応します
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期待される効果
- 積層セラミックコンデンサの各工程内測定の自動化を実現します
- 計測データネットワークシステムで工程管理が可能です
機能のご紹介
- 1.豊富な光学レンズラインナップとパワフルなソフトウエアで優れた画像測定を実現します。
- 2.TAF(オプション)を使用すればシートに反りがあっても常にフォーカス状態で測定ができます。
- 3.計測データネットワーク MeasurLink(オプション)を使用して、複数台の測定機による工程管理が可能です。
- 4.外部IOソフト QV Eio(オプション)を利用すれば、簡単にワーク搬送等のオートメーション化が可能です。
ミツトヨのストロングポイント
- 1.TAF(トラッキングオートフォーカス)を使用する事によりフォーカス動作を削減でき、トータル測定時間で競合他社比45%削減(実績)できます。
ご提案システム
Hyper QV/QV Apex シリーズ
TAF (トラッキングオートフォーカス)
計測データネットワーク MeasurLink
ミツトヨの商品や技術を実際に見て体験できるショールームのご案内
ミツトヨの商品・ソリューションを実演・提案するデモンストレーション・スペースとして「M3 Solution Center」を世界各地に展開。商品展示や専任エンジニアによる実演・実技指導のほか、システム導入にあたってのご相談を承っています。
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